電子顯微鏡(SEM)具高解析、大景深等優點以二次電子及反射電子成像來觀察表面的微曲形貌(微觀結構)，也可應用於探索材料失效的原因與製程的良率及產品故障分析。
搭配能量分散式光譜儀(EDS)可做成微區成分分析。
應用範圍 : 有機無機介面分析、表面粗糙度、表面微觀結構。
物性分析
微結構分析
微結構分析:
能量分散式光譜儀(EDS)
電子顯微鏡分析(SEM)【聯絡窗口】
電子郵件: testservice@pidc.org.tw
(首次委託測試或問題詢問，歡迎來信此信箱，會有專人為您服務。)
吳悅婧 副組長
電話: (04)2359-5900 #636
傳真: (04)2359-7862
電子郵件: sarahwu1009@pidc.org.tw
郭建庭 專員
電話: (04)2359-5900 #631
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電子郵件: markkuo2021@pidc.org.tw
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